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Titel russisch = : Dicke Schaltfilme

Darstellung einiger Ergebnisse ueber die experimentelle Untersuchung von Schaltfilmstrukturen auf der Basis eines keramischen Mehrkomponentensystems mit folgender Zusammensetzung: Zinnoxid 72 - 78 Prozent, Zinkoxid 16 - 22 Prozent, Zinkchlorid 0,7 - 1,3 Prozent, Kupferazetat 0,15 - 0,25 Prozent und... Full description

Series: POLUPROVODNIKOVAJA TEKHNIKA I MIKROELEKTRONIKA
17
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Additional Keywords: BOR
CHROM
DEFEKTELEKTRON
DICKSCHICHTSCHALTUNG
FREQUENZGANG
KUPFER
SCHALTTRANSISTOR
SCHALTVORGANG
STROM-SPANNUNGS-KENNLINIE
SUBSTRAT
TEMPERATUREINFLUSS
ZINKOXID
ZINNOXID
Notes: Copyright: Metadaten: TEMA, Copyright WTI-Frankfurt eG
Copyright: (C) Alle Rechte beim Herausgeber
Physical Description: 2 Seiten, 4 Bilder
PPN (Catalogue-ID): WTI010109293
Note: WTI TEMA DB
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Internes Format
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520 |a Darstellung einiger Ergebnisse ueber die experimentelle Untersuchung von Schaltfilmstrukturen auf der Basis eines keramischen Mehrkomponentensystems mit folgender Zusammensetzung: Zinnoxid 72 - 78 Prozent, Zinkoxid 16 - 22 Prozent, Zinkchlorid 0,7 - 1,3 Prozent, Kupferazetat 0,15 - 0,25 Prozent und Chromdiborid 2 - 8 Prozent. Von den ueblichen Halbleiterschaltern unterscheiden sich die untersuchten Strukturen durch das Fehlen von Elektronen-Loecher-Uebergaengen und bestehen aus einem heterogenen Film der Dicke 100 - 200 Mikrom. Angegeben sind U-I-Charakteristiken, Frequenzabhaengigkeiten der Spannung und des Schaltstroms, Temperaturabhaengigkeit der Schaltspannung. 
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